-
- WYJ-4XDIC科研級微分干涉顯微鏡
科研級微分干涉顯微鏡WYJ-4XDIC適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導電粒子分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業、硅片制造業、電子信息產業等觀察研究的理想儀器?？偡糯蟊稊担?0-800X
- 型號：WYJ-4XDIC
- 更新日期：2021-08-15 ￥面議
-
- WYJ-52DIC科研級微分干涉顯微鏡
科研級微分干涉顯微鏡WYJ-52DIC采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念，帶有偏光裝置、微分干涉裝置，可實現偏光觀察、微分干涉觀察等功能。
- 型號：WYJ-52DIC
- 更新日期：2021-01-27 ￥面議
共 2 條記錄，當前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉到第頁
在線交流
咨詢電話